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MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：2

题名/责任者:
国外测试新技术:晶体中缺陷的X射线貌相术观察/中国科学院上海冶金研究所X射线实验室译
出版发行项:
上海:上海科学技术情报研究所,1974
ISBN及定价:
/CNY1.50
载体形态项:
191页;26cm
团体责任者:
上海冶金研究所 X射线实验室 译
学科主题:
半导体技术-测量-外国
中图法分类号:
TN307
科图法分类号:
73.67
一般附注:
非正式出版物
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN307/Z352 004181351   密集书库     可借 密集书库
TN307/Z352 004181352   密集书库     可借 密集书库
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