MARC状态:审校 文献类型:西文图书 浏览次数:3
- 题名/责任者:
- Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis / Ludwig Reimer.
- 出版发行项:
- Berlin ; New York : Springer-Verlag, c1985.
- ISBN:
- 3540135308
- ISBN:
- 0387135308
- 载体形态项:
- xviii, 457 p. : ill. ; 23 cm.
- 丛编说明:
- Springer series in optical sciences ; v. 45
- 个人责任者:
- Reimer, Ludwig, 1928-
- 中图法分类号:
- TN153-53
- 书目附注:
- Includes bibliographical references (p. [405]-446) and index.
全部MARC细节信息>>
索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN153-53/R363 | 010071239 | 外文书库 | 可借 | 外文书库 | |
TN153-53/R363 | 010071240 | 外文书库 | 可借 | 外文书库 | |
TN153-53/R363 | 010075890 | 外文书库 | 可借 | 外文书库 | |
TN153-53/R363 | 010076612 | 外文书库 | 可借 | 外文书库 |
显示全部馆藏信息