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题名/责任者:

宽禁带半导体金刚石辐照缺陷的光致发光与光致变色/王凯悦著

出版发行项:

北京:科学出版社,2018

ISBN及定价:

978-7-03-057665-1/CNY68.00

载体形态项:

136页, [4] 页图版:图 (部分彩图);24cm

个人责任者:

王凯悦 著

学科主题:

金刚石-光致发光

中图法分类号:

O482.31

书目附注:

有书目 (第132-136页)

提要文摘附注:

本著作采用透射电镜近阀能辐照技术，对IIa型、IIb型、Ia型、Ib型等多种金刚石进行电子辐照以形成孤立的本征缺陷，通过研究光致发光光谱中光学中心的振动光谱、扩散情况，以及应力、杂质、紫外照射对光学中心强度与分裂情况的影响，结合同位素辅助技术，根据同位素引起缺陷质量变化而造成局部振动模偏移的特征，最后阐明金刚石光学中心对应的缺陷结构及电荷状态，并揭示其光致变色机理，为金刚石半导体器件制备及性能调控提供理论基础。

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