MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：10
- 题名/责任者:
- 国外集成电路测试仪概况/上海科学技术情报研究所编辑
- 出版发行项:
- 上海:上海科学技术情报研究所,1973
- ISBN及定价:
- /CNY0.20
- 载体形态项:
- 36页;18cm
- 团体责任者:
- 上海科学技术情报研究所 编辑
- 学科主题:
- 集成电路工艺-自动测试设备
- 中图法分类号:
- TN407
- 科图法分类号:
- 73.745
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