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题名/责任者:

数字集成电路测试:理论、方法与实践/李华伟[等]编著

出版发行项:

北京:清华大学出版社,2024

ISBN及定价:

978-7-302-66203-7/CNY79.00

载体形态项:

10,258页:图;24cm

其它题名:

理论、方法与实践

丛编项:

集成电路科学与技术丛书

个人责任者:

李华伟 编著

学科主题:

数字集成电路-测试技术

中图法分类号:

TN431.207

题名责任附注:

编著者还有:郑武东、温晓青、赖李洋、叶靖、李晓维

责任者附注:

李华伟,中国科学院计算技术研究所研究员,中国科学院大学教授,中国计算机学会集成电路设计专委会主任,曾获中国科学院教育教学成果奖二等奖、国家技术发明奖二等奖等。

责任者附注:

郑武东,西门子旗下Digital Industries Software公司首席科学家,IEEE Life Fellow,在集成电路测试和诊断领域拥有84项美国专利。博士毕业于美国伊利诺伊大学香槟分校,1990年联合创办了CheckLogic System,Inc.,主持开发半导体自动测试软件,该公司于1993年合并入Mento内Graphics公司,Mentor Graphics公司于 2017年被西门子公司收购。

责任者附注:

温晓青,日本九州工业大学教授,IEEE Fellow。担任IEE日Computer Society所属Power-Aware Testing技术活动委员会创始人兼共同主席,出版集成电路测试领域英文专著10部,并拥有35项专利。

责任者附注:

赖李洋,汕头大学副教授。博士毕业于美国伊利诺伊大学香槟分校,曾就职于美国Mentor Graphics公司,有多年芯片可测性设计产品的研发经历,回国后一直从事本科生和研究生的课程教学与研究工作。

责任者附注:

叶靖,中国科学院计算技术研究所副研究员,中科鉴芯(北京)科技有限责任公司首席执行官。曾获中国产学研合作创新成果奖二等奖、北京市科学技术进步奖二等奖等。

责任者附注:

李晓维,中国科学院计算技术研究所研究员,中国科学院大学教授,中国计算机学会会士。曾获中国科学院教育教学成果奖二等奖、国家技术发明奖二等奖、国家科学技术进步奖二等奖等。

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书全面介绍了数字电路测试的基础理论。第1章为数字电路测试技术导论,第2-9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SOC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术,第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术,第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。针对每一种数字电路测试技术,本书一方面用示例讲述其技术原理,另一方面用电子设计自动化(EDA)的商业工具对具体实例演示技术应用过程(EDA工具应用脚本及其说明将作为本书附录在网站上提供下载),并在章后附有习题。通过本书,读者一方面可以学习到基本的测试理论和相关技术;另一方面,还可以对当今芯片设计流程和EDA工具链中测试技术的运用和实践有所了解。

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