MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：3
- 题名/责任者:
- 光学薄膜厚度的光干涉测试方法/苏俊宏著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2019
- ISBN及定价:
- 978-7-03-062302-7/CNY98.00
- 载体形态项:
- 166页:图;24cm
- 个人责任者:
- 苏俊宏 著
- 学科主题:
- 光学干涉仪-测试方法
- 中图法分类号:
- TH744.3
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书以光干涉测试技术为原理, 以光学薄膜厚度参数为测量对象, 介绍几种实现光学薄膜厚度测量的光干涉测试方法, 包括干涉条纹法、快速傅里叶变换法、相位偏移干涉法、数字叠栅法, 以及错位干涉法、外差干涉法和条纹扫描法。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TH744.3/S419 | 004102951 |  工业技术书库
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可借 | 工业技术书库 | |
| TH744.3/S419 | 004102952 | 工业技术书库
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可借 | 工业技术书库 | |
| TH744.3/S419 | 004102953 | 工业技术书库
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可借 | 工业技术书库 |
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