安徽理工大学图书馆书目检索系统

Online Public Access Catalogue

题名/责任者:

超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合信号系统/(美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著 蒋安平, 冯建华, 王新安译

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2005

ISBN及定价:

7-121-01490-4/CNY58.00

载体形态项:

511页:图;26cm

并列正题名:

Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits

其它题名:

数字存储器和混合信号系统

丛编项:

国外电子与通信教材系列

个人责任者:

布什内尔, M. L. (Bushnell, Michael L.) 著

个人责任者:

阿格雷沃尔, V. D. (Agrawal, Vishwani D.) 著

个人次要责任者:

蒋安平 译

个人次要责任者:

冯建华 译

个人次要责任者:

王新安 译

学科主题:

超大规模集成电路-测试-教材

中图法分类号:

TN470.7

中图法分类号:

TN47

出版发行附注:

本书中文简体字版由Kluwer A cademic Publishers授权电子出版社出版

责任者附注:

责任者Bushnell规范汉译姓: 布什内尔; 责任者Agrawal规范汉译姓: 阿格雷沃尔

书目附注:

有书目 (第474-511页)

提要文摘附注:

本书主要内容包括: 引言、VLSI测试过程和测试设备、测试经济学和产品质量、故障模型、逻辑与故障模拟等。

豆瓣简介：