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MARC状态：审校 文献类型：西文图书 浏览次数：3

题名/责任者:
Discrete semiconductor reliability transistor/diode data.
出版发行项:
[S.l.] : ILT Research Institute, 1977.
载体形态项:
304 p. 28cm
个人责任者:
Reliability analysis center.
附加个人名称:
Nicholls, David B., jt. auth.
中图法分类号:
TN306
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN306/R382 010074757   外文书库     可借 外文书库
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