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题名/责任者:

二维X射线衍射/(美) 贺保平著 程国峰主译

出版发行项:

北京:化学工业出版社,2021

ISBN及定价:

978-7-122-35551-5 精装/CNY158.00

载体形态项:

370页, [29] 页图版:图;26cm

统一题名:

Two-dimensional X-ray diffraction

个人责任者:

贺保平 (He, Bob B.) 著

个人次要责任者:

程国峰 主译

学科主题:

二维-X射线衍射-研究

中图法分类号:

O434.1

版本附注:

据原书第2版译出

出版发行附注:

由John Wiley & Sons, Inc.授权出版

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

本书系流地介绍了二维X射线衍射的原理、实验方法、应用技术及应用领城。内容涵盖X射线光源、二维探测器、测角仪和光路, 以及析射数据处理与解析 (物相定性、激观结构分析、残余应力分析、织构分析、结晶度测量、薄膜分析、小角散射等) , 并给出了很多先进材料和药物等的具体分析实例, 如用于检查各种样品, 包括金属、聚合物、陶瓷、半导体、薄膜、涂料、生物材料、复合材料等。

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