MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：16
- 题名/责任者:
- VLSI测试方法学和可测性设计/雷绍充, 邵志标, 染峰著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2005
- ISBN及定价:
- 7-121-00379-1/CNY29.80
- 载体形态项:
- 286页:图;25cm
- 个人责任者:
- 雷绍充 著
- 个人责任者:
- 邵志标 著
- 个人责任者:
- 染峰 著
- 学科主题:
- 超大规模集成电路-测试技术
- 中图法分类号:
- TN47
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书系统地介绍了大规模集成电路的测试方法学和可测性设计, 主要内容为电路测试和分析的基本概念和理论, 数字电路的描述和模拟方法, 组合电路和时序电路的测试生成方法, 专用可测性设计, 扫描和边界扫描理论等。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN47/L744 | 000624315 | - |  工业技术书库
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可借 |
| TN47/L744 | 000624316 | - | 工业技术书库
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可借 |
| TN47/L744 | 000624317 | - | 工业技术书库
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可借 |
| TN47/L744 | 000624318 | - | 工业技术书库
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可借 |
| TN47/L744 | 000624319 | - | 工业技术书库
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可借 |
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