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首记录 上一条 1 / 2 下一条 尾记录 MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:14

题名/责任者:
功率半导体器件:原理、特性和可靠性/(德) Joself Lutz ... [等] 著 卞抗, 杨莺, 刘静译
出版发行项:
北京:机械工业出版社,2013.06
ISBN及定价:
978-7-111-41727-9/CNY98.00
载体形态项:
11, 435页:图;24cm
丛编项:
国际电气工程先进技术译丛
个人责任者:
卢茨 (Lutz, Joself)
个人责任者:
Schlangenotto, Heinrich 著
个人责任者:
Doncker, Rik De 著
个人责任者:
Scheuermann, Uwe 著
个人次要责任者:
卞抗
个人次要责任者:
杨莺
个人次要责任者:
刘静
学科主题:
功率半导体器件
中图法分类号:
TN303
题名责任附注:
题名页题其余责任者: Heinrich Schlangenotto, Uwe Scheuermann, Rik De Doncker
出版发行附注:
由Springer授权
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书介绍了功率半导体器件的原理、结构、特性和可靠性技术, 器件部分涵盖了当前电力电子技术中使用的各种类型功率半导体器件, 包括二极管、晶闸管、MOSFET、IGBT和功率集成器件等。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN303/L179 000885039  - 工业技术书库     可借
TN303/L179 000885040  - 工业技术书库     可借
TN303/L179 000885041  - 工业技术书库     可借
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