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题名/责任者:

Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis : 7-10 juin 1983, Paris, France.

出版发行项:

Les Ulis Cedex, France : ?ditions de physique, 1983.

ISBN:

2902731698

载体形态项:

xviii, 533 p. : ill. ; 26 cm.

变异题名:

Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis

丛编说明:

Journal de physique, 0449-1947 ; t. 44, colloque C-10, supplément au no 12, Décembre 1983

丛编统一题名:

Journal de physique. Colloque ; 1983, C10.

会议名称:

Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces (1983 : Paris, France)

论题主题:

Ellipsometry-Congresses.

中图法分类号:

O484.5-53

一般附注:

"Europhysics journal."

书目附注:

Includes bibliographical references and index.

豆瓣简介：