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题名/责任者:

电子学系统辐射效应与加固技术/许献国, 曾超著

出版发行项:

哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社,2023.05

ISBN及定价:

978-7-5767-0540-9 精装/CNY128.00

载体形态项:

390页:图;24cm

并列正题名:

Radiation effects and hardening techniques of electronic systems

丛编项:

材料与器件辐射效应及加固技术研究著作

个人责任者:

许献国 著

个人责任者:

曾超 著

学科主题:

电子器件-辐射效应-研究

学科主题:

电子器件-抗辐射性-研究

中图法分类号:

TN602

一般附注:

国家出版基金资助项目

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书系统性地介绍辐射对电子学系统的损伤机制、研究方法和加固技术。第1-3章介绍辐射环境、辐射与物质的相互作用, 以及电子元器件的辐射效应 ; 第4-6章介绍多物理响应与多物理场作用、辐射效应的试验与测试, 以及辐射环境与辐射效应的计算与仿真 ; 第7章和第8章介绍电子学系统抗辐射加固技术与抗辐射性能评估。附录提供了常用的辐射效应数据以便查询。

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