MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：18
- 题名/责任者:
- 电子元器件可靠性设计/王蕴辉, 于宗光, 孙再吉主编
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2007
- ISBN及定价:
- 978-7-03-019638-5/CNY49.90
- 载体形态项:
- 514页:图;24cm
- 丛编项:
- 电子可靠性工程技术实践丛书
- 个人责任者:
- 王蕴辉 主编
- 个人责任者:
- 于宗光 主编
- 个人责任者:
- 孙再吉 主编
- 学科主题:
- 电子元件-可靠性设计
- 中图法分类号:
- TN602
- 提要文摘附注:
- 本书共有9章，涉及半导体集成电路、混合电路、分立半导体器件、连接器、继电器、电容器和微特电机等元器件的可靠性设计技术，主要为：可靠性设计与控制基本要求；性能可靠性设计、结构可靠性设计、工艺可靠性设计和可靠性评价试验设计等可靠性设计内容及生产环境控制，可靠性设计和控制应用实例等方面内容。
- 使用对象附注:
- 可靠性保障工程师，硬件开发人员
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN602/W919 | 000767994 | - |  工业技术书库
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可借 |
| TN602/W919 | 000767995 | - | 工业技术书库
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可借 |
| TN602/W919 | 000767996 | - | 工业技术书库
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可借 |
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