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题名/责任者:

纳米薄膜分析基础/T. J. Alford, L. C. Feldman, J. W. Mayer

版本说明:

影印版

出版发行项:

北京:科学出版社,2008.06

ISBN及定价:

978-7-03-022259-6 精装/CNY68.00

载体形态项:

xii, 336页:图;25cm

并列正题名:

纳米薄膜分析基基础

丛编项:

国外物理名著系列;17

个人责任者:

阿尔弗德 (Alford, T. J.) 著

个人责任者:

费德曼 (Feldman, L. C.) 著

个人责任者:

迈耶 (Mayer, J. W.) 著

学科主题:

纳米材料-薄膜-英文

中图法分类号:

TB383

中图法分类号:

O4-51

出版发行附注:

由德国施普林格出版公司授权

书目附注:

有书目和索引。

提要文摘附注:

本书主要研究了材料表现及从表面到几十乃至100纳米深的结构与构成，主要讨论了用入射粒子和光子来量化结构并进行成分和深度分析的材料表征方法。

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