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首记录 上一条 1 / 3 下一条 尾记录 MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:25

题名/责任者:
分析晶体缺陷的电子显微术/(美)洛雷托,(美)斯莫尔曼著 康振川,王桂金译
出版发行项:
上海:上海科学技术出版社,1979
载体形态项:
111页;20cm
个人责任者:
洛雷托
个人责任者:
斯莫尔曼
个人次要责任者:
康振川, 1938- 译
个人次要责任者:
王桂金 (翻译) 译
学科主题:
晶体缺陷-分析-电子显微术
中图法分类号:
O77
科图法分类号:
75.221
科图法分类号:
54.968
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
54.968/311/ 001191027   密集书库     可借
54.968/311/ 001193026   密集书库     可借
54.968/311/ 001193029   密集书库     可借
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