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题名/责任者:

分析晶体缺陷的电子显微术/(美)洛雷托,(美)斯莫尔曼著 康振川,王桂金译

出版发行项:

上海:上海科学技术出版社,1979

载体形态项:

111页;20cm

个人责任者:

洛雷托 著

个人责任者:

斯莫尔曼 著

个人次要责任者:

康振川, 1938- 译

个人次要责任者:

王桂金 (翻译) 译

学科主题:

晶体缺陷-分析-电子显微术

中图法分类号:

O77

科图法分类号:

75.221

科图法分类号:

54.968

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