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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:18

题名/责任者:
半导体封装测试制造系统运行优化理论与技术/倪妍婷著
出版发行项:
武汉:武汉大学出版社,2017
ISBN及定价:
978-7-307-19034-4/CNY29.00
载体形态项:
173页:图;24cm
个人责任者:
倪妍婷
学科主题:
半导体工艺-封装工艺-测试-智能制造系统
中图法分类号:
TN305.94
一般附注:
国家自然科学基金项目 (No.51505042) 和四川省教育厅重点项目 (No.17ZA0088) 成果
书目附注:
有书目 (第157-172页)
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN305.94/N933 000993624   工业技术书库     可借 工业技术书库
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