MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：5
- 题名/责任者:
- 可靠性物理/姚立真编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2004
- ISBN及定价:
- 7-121-00209-4/CNY88.00
- 载体形态项:
- 21, 669页;24cm
- 丛编项:
- 电子元器件质量与可靠性技术丛书
- 个人责任者:
- 姚立真 编著
- 学科主题:
- 电子元件-可靠性
- 中图法分类号:
- TN6
- 书目附注:
- 有书目 (第668-669页)
- 提要文摘附注:
- 全书分为四部分，阐述了电子元器件失效分析中的理论基础；论述了失效的物理模型；介绍了元器件静电放电失效的原理和防护，元器件的辐射效应和抗辐射加固技术等内容。
- 使用对象附注:
- 读者对象：从事各类电子元器件的研制、生产和使用的科技人员、管理人员，高等学校相关师生。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN6/Y499 | 000720476 | - |  工业技术书库
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可借 |
| TN6/Y499 | 000720477 | - | 工业技术书库
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可借 |
| TN6/Y499 | 000720478 | - | 工业技术书库
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可借 |
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