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题名/责任者:

Digital Systems Testing and Testable Design/Miron Abramovici, Melvin A.Breuer, Arthur D.Friedman著

版本说明:

影印版

出版发行项:

北京:清华大学出版社,2004

ISBN及定价:

7-302-07747-9/CNY65.00

载体形态项:

652页;26cm

并列正题名:

数字系统测试和可测性设计

丛编项:

国外大学优秀教材.微电子类系列

个人责任者:

阿布拉莫维奇, M. (Abramovici, Miron) 著

个人责任者:

布鲁尔, M. A. (Breuer, Melvin A.) 著

个人责任者:

弗里德曼, A. D. (Friedman, A.D.) 著

学科主题:

数字系统-测试-高等学校-英文-教材

学科主题:

数字系统-系统设计-高等学校-英文-教材

中图法分类号:

TP271

提要文摘附注:

本书主要介绍了数字系统, 数字微系统芯片缺陷的来源, 逻辑描述的方法, 故障的建模, 故障模拟, 测试单固定故障等内容。

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