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题名/责任者:

FPGA芯片设计与测试技术研究/张惠国, 顾涵著

出版发行项:

苏州:苏州大学出版社,2022

ISBN及定价:

978-7-5672-3899-2/CNY59.00

载体形态项:

196页:图;24cm

并列正题名:

Research on FPGA chip design and test technology

个人责任者:

张惠国 著

个人责任者:

顾涵 著

学科主题:

可编程序逻辑器件-研究

中图法分类号:

TP332.1

书目附注:

有书目 (第176-178页)

提要文摘附注:

本书围绕基于SRAM的FPGA, 基于岛状的架构, 对FPGA的各个模块进行了详细的分析和设计, 并设计了可扩展的FPGA配置电路以及可靠全局信号网络, 同时对FPGA进行了抗辐照改进设计研究。本书详细解析了FPGA内部的逻辑、布线、配置、接口、可靠性设计、测试等方面的知识, 涉及了FPGA芯片涉及的多个方面, 可为从事FPGA芯片设计人员和FPGA应用工程师提供了芯片内部的设计知识, 提升对FPGA器件的设计和应用能力。

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