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MARC状态:审校 文献类型:西文图书 浏览次数:3

题名/责任者:
Precision surface metrology : August 23-24, 1983, San Diego, California / James C. Wyant, chairman/editor.
出版发行项:
Bellingham, Wash., USA : SPIE--the International Society for Optical Engineering, c1983.
ISBN:
0892524642 (pbk.)
载体形态项:
vi, 206 p. : ill. ; 28 cm.
丛编题名:
Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ; v. 429
个人责任者:
Wyant,James C.
附加个人名称:
Wyant, James C.
附加团体名称:
Society of Photo-optical Instrumentation Engineers.
论题主题:
Glass-Surfaces-Measurement-Congresses.
论题主题:
Interferometer-Congresses.
论题主题:
Optical measurements-Congresses.
中图法分类号:
TH744.3-53
书目附注:
Includes bibliographies and index.
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TH744.3-53/W974 010066955   外文书库     可借 外文书库
TH744.3-53/W974 010070266   外文书库     可借 外文书库
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