MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：11
- 题名/责任者:
- 模拟/混合信号集成电路抗辐照技术与实践/黄晓宗 ... 等编著
- 出版发行项:
- 哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社,2023
- ISBN及定价:
- 978-7-5767-0545-4 精装/CNY108.00
- 载体形态项:
- 289页:图;25cm
- 丛编项:
- 材料与器件辐射效应及加固技术研究著作
- 个人责任者:
- 黄晓宗 编著
- 个人责任者:
- 李儒章 编著
- 个人责任者:
- 付东兵 编著
- 学科主题:
- 模拟集成电路-抗辐射性-研究
- 学科主题:
- 混合集成电路-抗辐射性-研究
- 中图法分类号:
- TN431.1
- 中图法分类号:
- TN45
- 一般附注:
- 国家出版基金项目 国家出版基金资助项目
- 题名责任附注:
- 题名页题其余责任者：李儒章、付东兵、吴雪等
- 书目附注:
- 有书目和索引
- 提要文摘附注:
- 本书系统地介绍了辐射对电子系统的损伤机理，加固技术和实践，辐射测试技术等研宽内容，并阐述了抗辐射加固技术的发展趋势。第1章和第2章介绍了辐射环境与基本辐射效应，半导体器件的辐射效应损伤机理，并介绍了SiGe HBT BiCMOS工艺的辐射特性：第3~5章介绍了从工艺，版图和电路等方面进行抗辐射加固的技术：第6章针对模拟/混合信号集成电路加固技术的案例进行了研究：第7章和第8章介绍了模拟/混合信号集成电路辐射测试技术和抗辐射加固发展趋势。
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