MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：9
- 题名/责任者:
- 国外集成电路测试自动化
- 出版发行项:
- 上海:上海科学技术情报研究所,1977
- 载体形态项:
- 74页:图;26cm
- 学科主题:
- 半导体技术-测量
- 中图法分类号:
- TN307
- 科图法分类号:
- 73.75157
- 一般附注:
- 半导体器件生产自动化专辑
- 一般附注:
- 国内发行
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| 73.75157/2343 | 001101761 |  密集书库
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| 73.75157/2343 | 001101762 | 密集书库
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| 73.75157/2343 | 001101763 | 密集书库
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| 73.75157/2343 | 001101764 | 密集书库
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| 73.75157/2343 | 001101765 | 密集书库
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