MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:3
- 题名/责任者:
- 电子材料与器件失效分显微组织图谱/“图谱”编审组编
- 出版发行项:
- 北京:中国标准出版社,1985.12
- ISBN及定价:
- /CNY11.60
- 载体形态项:
- 533页;26厘米
- 团体责任者:
- “图谱”编审组 编
- 中图法分类号:
- TN1
全部MARC细节信息>>
索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN1/D974 | 002195179 | 密集书库 | 可借 | 密集书库 | |
TN1/D974 | 002195180 | 密集书库 | 可借 | 密集书库 | |
TN1/D974 | 002195181 | 密集书库 | 可借 | 密集书库 |
显示全部馆藏信息