MARC状态:审校 文献类型:西文图书 浏览次数:10
- 题名/责任者:
- Physics of thin films : advances in research and development.
- 出版发行项:
- New York : Academic Press, c1963-c1994.
- ISBN:
- 0125330081 (v. 8)
- ISBN:
- 012533009X (v. 9)
- ISBN:
- 0125330103 (v. 10)
- ISBN:
- 0125330138 (v. 13)
- ISBN:
- 0125330146 (v. 14)
- ISBN:
- 0125330154 (v. 15)
- ISBN:
- 0125330162 (v. 16)
- ISBN:
- 0125330170 (v. 17)
- ISBN:
- 0125330189 (v. 18)
- ISBN:
- 0125330197 (v. 19)
- 载体形态项:
- 19 v. : ill. ; 24 cm.
- 附加个人名称:
- Hass, Georg, 1906-
- 附加个人名称:
- Francombe, Maurice H.
- 附加个人名称:
- Hoffman, Richard W.
- 附加个人名称:
- Vossen, John L.
- 论题主题:
- Thin films.
- 中图法分类号:
- O484
- 一般附注:
- Volume editors: v.7-v. 8 / edited by Georg Hass, Maurice H. Francombe, Richard W. Hoffman ; v.10 / edited by Georg Hass, Maurice H. Francombe ; v.14-v.19 / edited by Maurice H. Francombe, John L. Vossen.
- 书目附注:
- Includes bibliographical references and index.
- 内容附注:
- gv. 14. Contemporary preparative techniques -- v. 15. Thin films for advanced electronic devices -- v. 16. Thin films for emerging applications -- v. 17. Mechanic and dielectric properties -- v. 18. Plasma sources for thin film deposition and etching -- v. 19. Optical characterization of real surfaces and films.
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