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MARC状态:审校 文献类型:西文图书 浏览次数:10

题名/责任者:
Physics of thin films : advances in research and development.
出版发行项:
New York : Academic Press, c1963-c1994.
ISBN:
0125330081 (v. 8)
ISBN:
012533009X (v. 9)
ISBN:
0125330103 (v. 10)
ISBN:
0125330138 (v. 13)
ISBN:
0125330146 (v. 14)
ISBN:
0125330154 (v. 15)
ISBN:
0125330162 (v. 16)
ISBN:
0125330170 (v. 17)
ISBN:
0125330189 (v. 18)
ISBN:
0125330197 (v. 19)
载体形态项:
19 v. : ill. ; 24 cm.
附加个人名称:
Hass, Georg, 1906-
附加个人名称:
Francombe, Maurice H.
附加个人名称:
Hoffman, Richard W.
附加个人名称:
Vossen, John L.
论题主题:
Thin films.
中图法分类号:
O484
一般附注:
Volume editors: v.7-v. 8 / edited by Georg Hass, Maurice H. Francombe, Richard W. Hoffman ; v.10 / edited by Georg Hass, Maurice H. Francombe ; v.14-v.19 / edited by Maurice H. Francombe, John L. Vossen.
书目附注:
Includes bibliographical references and index.
内容附注:
gv. 14. Contemporary preparative techniques -- v. 15. Thin films for advanced electronic devices -- v. 16. Thin films for emerging applications -- v. 17. Mechanic and dielectric properties -- v. 18. Plasma sources for thin film deposition and etching -- v. 19. Optical characterization of real surfaces and films.
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