安徽理工大学图书馆书目检索系统

| 暂存书架(0) | 登录



MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：3

题名/责任者:
集成电路可靠性/上海冶金研究所编译
出版发行项:
上海:上海科学技术情报研究所,1972
ISBN及定价:
/CNY0.40
载体形态项:
64页;26cm
团体责任者:
上海冶金研究所 编译
学科主题:
集成电路工艺-可靠性试验
中图法分类号:
TN406
科图法分类号:
73.755
一般附注:
非正式出版物
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
73.755/2334Q1 001010634   密集书库     可借 密集书库
73.755/2334Q1 001010635   密集书库     可借 密集书库
73.755/2334Q1 001010636   密集书库     可借 密集书库
73.755/2334Q1 001010637   密集书库     可借 密集书库
73.755/2334Q1 001010638   密集书库     可借 密集书库
73.755/2334Q1 001010639   密集书库     可借 密集书库
73.755/2334Q1 001010640   密集书库     可借 密集书库
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名：
密码：
验证码：
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名：
手机号：
送 书 地：
收藏到： 管理书架