MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：9
- 题名/责任者:
- UVM芯片验证技术案例集/马骁编著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2024
- ISBN及定价:
- 978-7-302-65854-2/CNY119.00
- 载体形态项:
- 20,424页;24cm
- 丛编项:
- 计算机技术开发与应用丛书
- 个人责任者:
- 马骁 编著
- 学科主题:
- 芯片-验证
- 中图法分类号:
- TN430.7
- 提要文摘附注:
- 本书是基于UVM验证方法学的针对芯片验证实际工程场景的技术专题工具书,包括对多种实际向题场景下的解决专题。全书描述了每个专题要解决的问题、背景、解决的思路、基本原理、步骤,并给出了示例代码以供参考。
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN430.7/M879 | 004335273 |  工业技术书库
|
可借 | |
| TN430.7/M879 | 004335274 | 工业技术书库
|
可借 | |
| TN430.7/M879 | 004335275 | 工业技术书库
|
可借 |
显示全部馆藏信息