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题名/责任者:

集成电路系统设计、验证与测试/(美) Louis Scheffer, Luciano Lavagno, Grant Martin著 陈力颖, 王猛译

出版发行项:

北京:科学出版社,2008.06

ISBN及定价:

978-7-03-021490-4/CNY62.00

载体形态项:

xiv, 475页:图;26cm

统一题名:

EDA for IC system design, verification and testing

丛编项:

集成电路EDA技术

个人责任者:

谢弗 (Scheffer, Louis) 著

个人责任者:

马丁 (Martin, Grant) 著

个人次要责任者:

陈力颖 译

个人次要责任者:

王猛 译

学科主题:

集成电路-电路设计

中图法分类号:

TN402

相关题名附注:

英文并列提名取自于版权页

书目附注:

有书目。

提要文摘附注:

本书内容涵盖了IC设计过程和EDA，系统级设计方法与工具，系统级规范与建模语言、soC的IP设计，MPsoC设计的性能验证方法，处理器建模与设计工具，嵌入式软件建模与设计，设计与验证语言，数字仿真，并详细分析了基于声明的验证，DFT，而且专门探讨了ATPC，以及模拟和混合信号测试等，本书还为IC测试提供了方便而全面的参考。

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