MARC状态：审校 文献类型：西文图书 浏览次数：2
- 题名/责任者:
- Scanning electron microscopy/1985/lll:an international journal of scanning electron microscopy,related techniques,and applications;pt.3 / guest editor R. P. Backer
- 出版发行项:
- New Orleans,La. : Scanning Electron Microscopy,Inc., 1985
- 载体形态项:
- 905-1304 p. : ill. ;. 29cm
- 中图法分类号:
- TM153-53
- 书目附注:
- Includes bibliographical references and index.
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TM153-53/S283/3:3 | 010076088 |  外文书库
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可借 | 外文书库 |
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