MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：10
- 题名/责任者:
- 干涉显微镜/国家计量局批准
- 出版发行项:
- 北京:计量出版社,1984
- 载体形态项:
- 11页:图;21cm
- 丛编项:
- 中华人民共和国国家计量检定规程
- 团体责任者:
- 国家计量局批准 批准
- 中图法分类号:
- T-652.6
- 科图法分类号:
- 71.242
- 题名责任附注:
- 题名与责任者取自封面
- 特殊细节附注:
- 1983-09-30批准, 1984-10-01施行
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| 71.242/2332Q42 | 001287271 |  密集书库
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可借 | 密集书库 | |
| 71.242/2332Q42 | 001287272 | 密集书库
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可借 | 密集书库 | |
| 71.242/2332Q42 | 001287273 | 密集书库
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| 71.242/2332Q42 | 001287274 | 密集书库
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可借 | 密集书库 |
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