MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：3
- 题名/责任者:
- 半导体器件的可靠性.专集/中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
- 出版发行项:
- 重庆:科学技术文献出版社重庆分社,1974
- ISBN及定价:
- /CNY1.05
- 载体形态项:
- 165页;26cm
- 团体责任者:
- 中国科学技术情报研究所 重庆分所 编辑
- 学科主题:
- 半导体器件-可靠性试验-文集
- 中图法分类号:
- TN306-53
- 科图法分类号:
- 73.7314
全部MARC细节信息>>
MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：3
密集书库