MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：7
- 题名/责任者:
- 集成电路测试指南/邬刚, 王瑞金, 包军林编著
- 出版发行项:
- 北京:机械工业出版社,2021.07
- ISBN及定价:
- 978-7-111-68392-6/CNY99.00
- 载体形态项:
- XIII, 257页:图;24cm
- 个人责任者:
- 邬刚 编著
- 个人责任者:
- 王瑞金 编著
- 个人责任者:
- 包军林 编著
- 学科主题:
- 集成电路-电路测试-指南
- 中图法分类号:
- TN407-62
- 一般附注:
- 华章IT
- 提要文摘附注:
- 本书将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合, 内容涵盖半导体集成电路测试流程, 测试原理及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN407-62/W341 | 004216243 |  工业技术书库
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可借 | 工业技术书库 | |
| TN407-62/W341 | 004216244 | 工业技术书库
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可借 | 工业技术书库 | |
| TN407-62/W341 | 004216245 | 工业技术书库
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可借 | 工业技术书库 |
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