MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：3
- 题名/责任者:
- 集成电路开发与测试.初级/杭州朗迅科技有限公司组编 主编吕坤颐, 夏敏磊
- 出版发行项:
- 北京:高等教育出版社,2021
- ISBN及定价:
- 978-7-04-055326-0/CNY48.00
- 载体形态项:
- 215页:图;26cm
- 其它题名:
- 初级
- 丛编项:
- 集成电路职业标准建设系列丛书
- 丛编项:
- 集成电路1+X职业技能等级证书系列丛书
- 个人责任者:
- 吕坤颐 主编
- 个人责任者:
- 夏敏磊 主编
- 团体次要责任者:
- 杭州朗迅科技有限公司 组编
- 学科主题:
- 集成电路-电路设计-高等职业教育-教材
- 中图法分类号:
- TN40
- 书目附注:
- 有书目 (第215页)
- 提要文摘附注:
- 全书内容由六个项目组成，包括：职业素养、晶圆制程、晶圆测试、集成电路封装、集成电路测试、集成电路应用。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN40/L467/1 | 004199028 |  工业技术书库
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可借 | 工业技术书库 | |
| TN40/L467/1 | 004199029 | 工业技术书库
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可借 | 工业技术书库 | |
| TN40/L467/1 | 004199030 | 工业技术书库
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可借 | 工业技术书库 |
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