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首记录 上一条 1 / 11 下一条 尾记录 MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：4

题名/责任者:
电子元器件失效分析及应用/主编夏泓
出版发行项:
北京:国防工业出版社,1998
ISBN及定价:
7-118-01811-2/CNY8.00
载体形态项:
155页,[2叶图版]:图,摹真;21cm
丛编项:
可靠性·维修性·保障性丛书;8
个人责任者:
夏泓 (电子)
学科主题:
电子元件-失效分析
学科主题:
电子器件-失效分析
中图法分类号:
TN60
科图法分类号:
73.61
书目附注:
有书目(第154-155页)
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN60/X386 004134717   密集书库     可借 密集书库
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