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题名/责任者:

X荧光勘查技术及其在地质找矿中的应用/周四春 ... [等] 著

出版发行项:

北京:科学出版社,2020.09

ISBN及定价:

978-7-03-055851-0/CNY228.00

载体形态项:

xi, 440页:图;26cm

个人责任者:

周四春 著

个人责任者:

刘晓辉 著

个人责任者:

曾国强 著

个人责任者:

杨强 著

学科主题:

X射线荧光光谱法-应用-找矿-研究

中图法分类号:

O657.34

中图法分类号:

P624

一般附注:

国家重点研发计划“锂能源金属矿产基地深部探测技术示范”项目 成都理工大学“核安全工程科研优秀创新团队”项目联合资助

题名责任附注:

题名页题其余责任者: 刘晓辉, 曾国强, 杨强

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书在对能量色散X射线荧光分析方法的物理原理, 携带 (手提) 式X射线荧光仪的结构、工作原理及国内外主要商品化产品的技术性能进行介绍的基础上, 系统讨论了基于携带 (手提) 式X射线荧光仪的X荧光勘查技术, 包括现场测量方法、数据处理、图件编制、资料解释等。书中逐一针对天青石矿、金矿、铜矿、铅锌矿、 (锂、铌钮等) 稀有金属矿等的X荧光测量找矿技术问题进行了详细讨论, 介绍了在这些矿产探矿工作中的成功应用实例。

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