MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：3
- 题名/责任者:
- X射线衍射形貌术/(英)坦纳(Tanner,B.K.)著 赵庆兰译
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,1985
- 载体形态项:
- 228页;19cm
- 并列正题名:
- X-Ray diffraction topography
- 个人责任者:
- 坦纳 (Tanner, Brian Keith) 著
- 个人次要责任者:
- 赵庆兰 译
- 学科主题:
- X射线衍射形貌术
- 中图法分类号:
- O72
- 科图法分类号:
- 54.92
- 一般附注:
- 书名原文: X-Ray diffraction topography.
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