MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：5
- 题名/责任者:
- 电子元器件失效分析及应用/主编夏泓
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,1998
- ISBN及定价:
- 7-118-01811-2/CNY8.00
- 载体形态项:
- 155页,[2叶图版]:图,摹真;21cm
- 丛编项:
- 可靠性·维修性·保障性丛书;8
- 个人责任者:
- 夏泓 (电子)
- 学科主题:
- 电子元件-失效分析
- 学科主题:
- 电子器件-失效分析
- 中图法分类号:
- TN60
- 科图法分类号:
- 73.61
- 书目附注:
- 有书目(第154-155页)
全部MARC细节信息>>
密集书库