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题名/责任者:

电子声子计量谱学/孙长庆, 杨学弦, 黄勇力著

出版发行项:

北京:科学出版社,2021.03

ISBN及定价:

978-7-03-067387-9 精装/CNY199.00

载体形态项:

xvii, 425页:图;24cm

并列正题名:

Electron and phonon spectrometrics

个人责任者:

孙长庆 著

个人责任者:

杨学弦 著

个人责任者:

黄勇力 著

学科主题:

电子声子相互作用-计量-研究

中图法分类号:

O481.3

责任者附注:

孙长庆, 现任职于新加坡南洋理工大学。杨学弦, 现任职于吉首大学。黄勇力, 现任职于湘潭大学。

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书旨在提倡计量谱学工程以获取前所未及的有关化学键-电子-声子-物性受激关联弛豫的定量和动态信息。主要涉及电子发射和衍射以及多场声子谱学分析原理、积分差谱专利技术、局域键平均近似、化学键受激弛豫、氢键非对称耦合振子对、非键电子极化等理论方法。通过改变原子配位、受力、冲击、受热、掺杂、水合、电磁辐射等对哈密顿量中晶体势进行微扰实现振动声子频率和电子能级的偏移, 以此解析获得各种物理量并建立关联函数, 以此揭示物质行为规律以实现有效控制。全书自成体系、风格独特。贯穿原创性、系统性、深入性和关联性于始终。强调原理、概念、方法和应用。物理图像清晰、数据结果翔实。

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