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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:6

题名/责任者:
X射线检测关键技术与应用研究/方正编著
出版发行项:
厦门:厦门大学出版社,2021
ISBN及定价:
978-7-5615-8068-4/CNY68.00
载体形态项:
329页:图;24cm
丛编项:
厦门大学南强丛书.第七辑
个人责任者:
方正 编著
学科主题:
X射线-射线检验
中图法分类号:
TB302.5
中图法分类号:
TG115.28
书目附注:
有书目 (第320-329页)
提要文摘附注:
本书系统地介绍了X射线检测和CT重建方面的理论知识及应用实例。本书从X射线的基础理论知识开始,介绍了X射线检测的物理学基础;并对射线检测各种方法进行了较为全面的描述,包括常规的X射线成像、射线光谱检测、CT重建等,还涉及前沿的吸收光谱检测、光/能谱CT、发射型计算机断层成像等领域。
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TB302.5/F976 004148030   工业技术书库     可借 工业技术书库
TB302.5/F976 004148031   工业技术书库     可借 工业技术书库
TB302.5/F976 004148032   工业技术书库     可借 工业技术书库
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