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题名/责任者:

数字集成电路参数的测量/(苏)Д. Ю. 埃杜卡斯等编著 张 伦译

出版发行项:

北京:人民邮电出版社,1988

ISBN及定价:

7-115-03469-9/CNY2.75

载体形态项:

345页;21cm

并列正题名:

Измерение Параметров Цифровых Цнтетральных Микрохсем

个人责任者:

埃杜卡斯 (Ейдукас, Д. Ю.)

个人责任者:

张伦 (数字集成电路)

学科主题:

数字集成电路-参数-测量

中图法分类号:

TN431.2

科图法分类号:

73.7554

一般附注:

根据М:радио и связь1982年英文版译出.

一般附注:

译自: Измерение параметров цифровых интегральных микросхем／Д. Ю. Зйдукас

提要文摘附注:

介绍集成电路的静态参数和动态参数及其测量方法、功能检验、静态参数检测设备、动态参数检测设备、功能检验设备、检验系统的程序保证及检测集成电路的生产体系等。

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