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MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：38

题名/责任者:
材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微分析/周玉，武高辉编著
出版发行项:
哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社,1998.8
ISBN及定价:
7-5603-1338-8/CNY19.80
载体形态项:
283页;26厘米
丛编项:
材料科学与工程丛书
个人责任者:
周玉 编著
个人责任者:
武高辉
非控制主题词:
材料分析 材料测试 技术
中图法分类号:
TG115
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TG115/Z934 000470454   工业技术书库     可借
TG115/Z934 000470455   工业技术书库     可借
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