MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：2
- 题名/责任者:
- 数字集成电路参数的测量/(苏)埃杜卡斯等编著 张伦译
- 出版发行项:
- 北京:人民邮电出版社,1988.3
- ISBN及定价:
- /CNY2.75
- 载体形态项:
- 345页;21厘米
- 个人责任者:
- 埃杜卡斯等 编著
- 个人次要责任者:
- 张伦 译
- 科图法分类号:
- 73.7554
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| 73.7554/1121 | 001370431 |  密集书库
|
可借 | 密集书库 | |
| 73.7554/1121 | 001370432 | 密集书库
|
可借 | ||
| 73.7554/1121 | 001370433 | 密集书库
|
可借 | ||
| 73.7554/1121 | 001370434 | 密集书库
|
可借 | ||
| 73.7554/1121 | 001370435 | 密集书库
|
可借 | ||
| 73.7554/1121 | 001370436 | 密集书库
|
可借 | ||
| 73.7554/1121 | 001370437 | 密集书库
|
可借 | ||
| 73.7554/1121 | 001370438 | 密集书库
|
可借 | 密集书库 | |
| 73.7554/1121 | 001370439 | 密集书库
|
可借 | ||
| 73.7554/1121 | 001370440 | 密集书库
|
可借 |
显示全部馆藏信息