MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：5
- 题名/责任者:
- 电子材料与元器件测试技术/周东祥，潘晓光编
- 出版发行项:
- 武昌:华中理工大学出版社,1994.12
- ISBN及定价:
- 7-5609-0983-3/CNY5.40
- 载体形态项:
- 301页;21厘米
- 个人责任者:
- 周东祥 编
- 个人责任者:
- 潘晓光
- 中图法分类号:
- TN606
- 一般附注:
- 高等学校教材
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN606/Z266 | 000472081 |  密集书库
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| TN606/Z266 | 000472082 | 密集书库
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