MARC状态:审校 文献类型:西文图书 浏览次数:10
- 出版发行项:
- New York, N.Y. : Institute of Electrical and Electronic Engineers ; Piscataway, N.J. : Available from IEEE Service Center, c1981.
- 载体形态项:
- 520 p. : ill. ; 28 cm.
- 会议名称:
- AUTOTESTCON (1981 : Orlando, Fla.)
- 论题主题:
- Automatic checkout equipment-Congresses.
- 中图法分类号:
- TP274-53
- 科图法分类号:
- 73.865083
- 一般附注:
- "81CH1716-0."
- 书目附注:
- Includes bibliographical references.
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| 73.865083/I61 | 010036918 | 外文书库
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| 73.865083/I61 | 010036919 | 外文书库
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