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题名/责任者:

集成电路测试技术/武乾文主编

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2022

ISBN及定价:

978-7-121-44351-0 精装/CNY128.00

载体形态项:

xvii, 329页:图;25cm

并列正题名:

Integrated circuit testing technology

丛编项:

集成电路系列丛书.集成电路封装测试

丛编项:

集成电路封装测试

个人责任者:

武乾文 主编

学科主题:

集成电路-电路测试

中图法分类号:

TN407

一般附注:

工信学术出版基金 集成电路产业知识赋能工程

相关题名附注:

英文并列题名取自封面

责任者附注:

武乾文, 中国电子科技集团公司第五十八研究所副总工程师, 电子科技大学、南京信息工程大学兼职教授, 硕士研究生导师, 无锡市学术带头人, DSP、CPU集成电路测试专家。

书目附注:

有书目 (第314-329页)

提要文摘附注:

本书全面、系统地介绍了集成电路测试技术。全书共分10章, 主要内容包括: 集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。书后还附有详细的测试实验指导书, 可有效指导读者开展相关测试程序开发实验。

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