MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：8
- 题名/责任者:
- 半导体材料及器件辐射缺陷与表征方法/李兴冀 ... 等编著
- 出版发行项:
- 哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社,2023
- ISBN及定价:
- 978-7-5767-0544-7 精装/CNY128.00
- 载体形态项:
- 401页:彩图;24cm
- 并列正题名:
- Characterization methods for radiation induced defects in semiconductor materials and devices
- 丛编项:
- 材料与器件辐射效应及加固技术研究著作
- 个人责任者:
- 李兴冀 编著
- 个人责任者:
- 杨剑群 编著
- 个人责任者:
- 徐晓东 编著
- 学科主题:
- 半导体材料-研究
- 学科主题:
- 半导体器件-研究
- 中图法分类号:
- TN304
- 一般附注:
- 国家出版基金项目 国家出版基金资助项目
- 题名责任附注:
- 题名页题其余责任者：杨剑群、徐晓东、应涛
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书共分为4章，系统闸述了辐射诱导半导体缺陷的相关理论，数值模拟方法，表征技术及应用。
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