MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：3
- 题名/责任者:
- 半导体的检测与分析/中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,1984.5
- ISBN及定价:
- /CNY3.70
- 载体形态项:
- 636页;21厘米
- 团体责任者:
- 中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室 著
- 中图法分类号:
- TN304.07
- 科图法分类号:
- 73.72
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| 73.72/2243 | 001280407 |  密集书库
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可借 | 密集书库 | |
| 73.72/2243 | 001280408 | 密集书库
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| 73.72/2243 | 00180406 | 密集书库
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| TN304.07/Z352 | 004180914 | 密集书库
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