MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：9
- 题名/责任者:
- 半导体器件可靠性与失效分析/卢其庆，张安康编
- 出版发行项:
- 南京:江苏科学技术出版社,1981.4
- ISBN及定价:
- /CNY1.70
- 载体形态项:
- 278页;26厘米
- 个人责任者:
- 卢其庆 编
- 个人责任者:
- 张安康
- 科图法分类号:
- 73.7314
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| 73.7314/213 | 001300908 |  密集书库
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