MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：12
- 题名/责任者:
- 出国参观考察报告.(79)001.日本航测、制图、制印、遥感与测绘资料缩微技术/中国科学技术情报研究所编辑
- 出版发行项:
- 北京:科学技术文献出版社,1979
- ISBN及定价:
- /CNY0.50
- 载体形态项:
- 52页;21cm
- 其它题名:
- 日本航测制图制印遥感与测绘资料缩微技术
- 团体责任者:
- 中国科学技术信息研究所 编辑
- 学科主题:
- 航空摄影测量-考察报告
- 中图法分类号:
- P231
- 科图法分类号:
- 50.511
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| 50.511/2243Q51 | 001187390 |  密集书库
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| 50.511/2243Q51 | 001187394 | 密集书库
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