MARC状态：审校 文献类型：西文图书 浏览次数：2
- 题名/责任者:
- Scanning electron microscopy/1985/IV : an international journal of . . . ; pt. 4 / R. P. Becker, . . .
- 版本说明:
- 第1版.
- 出版发行项:
- Chicago, Ill. : Scanning ELectron Microscopy, Inc,
- 载体形态项:
- 447 p. : ill. ; 29 cm.
- 附加个人名称:
- R. P. Becker.
- 中图法分类号:
- TM153-53
全部MARC细节信息>>
外文书库